更新時(shí)間：2024-06-16
設(shè)備型號：
設(shè)備價(jià)格：
訪問量：1448
| 品牌 | 其他品牌 | 貨號 | 123 |
|---|---|---|---|
| 規(guī)格 | HA-655-4-200 | 供貨周期 | 一個(gè)月以上 |
| 主要用途 | 機(jī)械設(shè)備 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子/電池 |
| 名稱 | 哈默納科 | 用途 | 半導(dǎo)體、機(jī)器人、機(jī)械設(shè)備 |
| 材質(zhì) | 鋼 | 是否進(jìn)口 | 是 |
用儀器測量圓柱度誤差主要采用的是圓度儀、光學(xué)分度頭或三坐標(biāo)測量機(jī)。在這些儀器上可以測得被測件若干截面上各測點(diǎn)的空間坐標(biāo)值哈默納科儀器測控諧波HA-655-4-200〔極坐標(biāo)或直角坐標(biāo)值)，然后計(jì)算出被測件的圓柱度誤差。
2.圓柱度誤差的評定方法
除上述兩點(diǎn)法和三點(diǎn)法外，評定圓柱度誤差的方法還有多種，如小區(qū)域法、小外接圓柱法、大內(nèi)接圓柱法和小二乘圓柱法等。
小區(qū)域法評定圓柱度誤差，是由半徑差為小哈默納科儀器測控諧波HA-655-4-200的兩個(gè)同軸圓柱面包容被測實(shí)際表面，取該半徑差為圓柱度誤差;小外接圓柱法評定圓柱度誤差，是由外接于被測實(shí)際表面且半
徑為小的外接圓柱面為理想圓柱面，被測實(shí)際表面上各點(diǎn)到該小外接圓柱面的大距離為圓柱度誤差;大內(nèi)接圓柱法評定圓柱度誤差，是由內(nèi)接于被測實(shí)際表面且半徑為大的內(nèi)接圓柱面為理想圓柱面，被測實(shí)際表面上各點(diǎn)到該大內(nèi)接圓柱面的大距離為圓柱度誤差。以上三種評定方法均基于幾何學(xué)而定義，由于涉及三維曲面，符合各方法定義的接觸形式繁多且尚不能窮舉
大距離為圓柱度誤差。以上三種評定方法均基于幾何學(xué)而定義，由于涉及三維曲面，符合各方法定義的接觸形式繁多且尚不能窮舉
